磁偏式二次離子質譜儀

設備/設施: Instrument Center

  • 地點

    No. 1, University Road, Tainan, TAIWAN 701

    Taiwan

Description

材料表面成分分析及樣品結構之元素縱深分析

1.廠牌及型號:法國 Cameca,IMS - 6f ‧

2.重要規格:扇型磁場式質譜儀,有O2+, Cs+及Cs-等離子源,解析度≒10,000,質量範圍≒300(99年5月修正)

3.主要附件:

  (1). Windows電腦系統;

  (2).電子槍系統;

  (3).CCD影像系統。

4.儀器性能:可以針對不同元素作縱深分佈和表面分析。

詳細資料

名字磁偏式二次離子質譜儀
擷取日期03-12-31

指紋

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distribution