搜尋結果
2024
Hung, Y. ,
Chen, C. H. ,
Chung, H. C. ,
Lai, J. Z. &
Tseng, S. Y. ,
2024 4月 1 ,
於: Optics Letters. 49 ,
7 ,
p. 1852-1855 4 p. 研究成果: Letter › 同行評審
engineering
100%
broadband
95%
silicon
72%
polarization
72%
cross polarization
61%
2020
Chu, S. Y. ,
Shen, M. X. ,
Yeh, T. H. ,
Chen, C. H. ,
Lee, C. T. &
Lee, H. Y. ,
2020 11月 1 ,
於: Sensors (Switzerland). 20 ,
21 ,
p. 1-10 10 p. , 6159.
研究成果: Letter › 同行評審
Photodetectors
84%
Atomic Layer Epitaxy
75%
atomic layer epitaxy
67%
Plasmas
60%
photometers
58%
Lu, J. Y. ,
You, B. ,
Wang, J. Y. ,
Jhuo, S. S. ,
Hung, T. Y. &
Yu, C. P. ,
2020 11月 1 ,
於: Sensors. 20 ,
21 ,
p. 1-14 14 p. , 6268.
研究成果: Letter › 同行評審
Waveguides
100%
Terahertz Radiation
94%
Gases
83%
Pipe
73%
Vapors
72%
2019
Lin, R. J. ,
Su, V. C. ,
Wang, S. ,
Chen, M. K. ,
Chung, T. L. ,
Chen, Y. H. ,
Kuo, H. Y. ,
Chen, J. W. ,
Chen, J. ,
Huang, Y. T. ,
Wang, J. H. ,
Chu, C. H. ,
Wu, P. C. ,
Li, T. ,
Wang, Z. ,
Zhu, S. &
Tsai, D. P. ,
2019 3月 1 ,
於: Nature Nanotechnology. 14 ,
3 ,
p. 227-231 5 p. 研究成果: Letter › 同行評審
Robotics
100%
Nitride
78%
White
68%
Imaging techniques
62%
Color
58%
2003
Chang, S. J. ,
Lee, M. L. ,
Sheu, J. K. ,
Lai, W. C. ,
Su, Y. K. ,
Chang, C. S. ,
Kao, C. J. ,
Chi, G. C. &
Tsai, J. M. ,
2003 4月 ,
於: IEEE Electron Device Letters. 24 ,
4 ,
p. 212-214 3 p. 研究成果: Letter › 同行評審
Gallium nitride
100%
Photodetectors
93%
Nitride
70%
Semiconductor materials
64%
Metals
46%
Chang, S. J. ,
Chen, C. H. ,
Su, Y. K. ,
Sheu, J. K. ,
Lai, W. C. ,
Tsai, J. M. ,
Liu, C. H. &
Chen, S. C. ,
2003 3月 ,
於: IEEE Electron Device Letters. 24 ,
3 ,
p. 129-131 3 p. 研究成果: Letter › 同行評審
Etching
100%
Light emitting diodes
91%
Diodes
85%
Optical losses
48%
Electrostatic Discharge
48%
Tu, R. C. ,
Tun, C. J. ,
Sheu, J. K. ,
Kuo, W. H. ,
Wang, T. C. ,
Tsai, C. E. ,
Hsu, J. T. ,
Chi, J. &
Chi, G. C. ,
2003 4月 ,
於: IEEE Electron Device Letters. 24 ,
4 ,
p. 206-208 3 p. 研究成果: Letter › 同行評審
Ohmic contacts
100%
Semiconductor lasers
81%
Superlattice
67%
Tunneling
67%
Quantum well lasers
43%
Schottky Contact
100%
Buffer layers
87%
Photodetectors
79%
Schottky Barrier
56%
Semiconductor materials
54%
2002
Kuo, C. H. ,
Chang, S. J. ,
Su, Y. K. ,
Chen, J. F. ,
Wu, L. W. ,
Sheu, J. K. ,
Chen, C. H. &
Chi, G. C. ,
2002 5月 ,
於: IEEE Electron Device Letters. 23 ,
5 ,
p. 240-242 3 p. 研究成果: Letter › 同行評審
Light emitting diodes
100%
Annealing
66%
Epitaxial films
51%
Purity
51%
Chemical activation
30%