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2014
貢獻的翻譯標題 | : 適用於積體電路晶片之多點溫度感測方法及其系統 |
Lee, K-J.,
Chen, C-H.,
Su, W-Y.,
Chang, S-J.,
Chiou, L-Y.,
Kuo, C-H.,
Tsai, C-H. &
Lin, J-M.,
2014 11月 20, 專利號 9448122
研究成果: Patent
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1800
貢獻的翻譯標題 | : 以掃描鏈對記憶體存取之晶片測試系統及其
方法 |
Chen, C-H.,
1800, 專利號 I544224
研究成果: Patent
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Lee, K-J.,
Chen, C-H.,
Su, W-Y.,
Chang, S-J.,
Chiou, L-Y.,
Kuo, C-H.,
Tsai, C-H. &
Lin, J-M.,
1800, 專利號 I489093
研究成果: Patent