Wang, K. L., Lin, C. F., Cheng, C., Huang, T. C., Lin, B. H., Xie, Y. L., Wang, B. Y., Kung, J., Lin, K. I. & Hsu, K-F., 2025 3月 11, 於: CrystEngComm.27, 16, p. 2483-24897 p.
Su, Y. H., Chen, W. L., Byun, H. R., Zhang, Y. F., Zhuang, M. R., Lin, Y. C., Chang, C. K., Wang, P. Y., Lin, C. C., Lin, K. I., Liu, H. K., Lee, M. K., Jang, J. I., Chang, Y. M. & Hsu, K. F., 2023 1月 30, 於: Inorganic Chemistry.62, 4, p. 1570-157910 p.
Haynes, A. S., Liu, T. K., Frazer, L., Lin, J. F., Wang, S. Y., Ketterson, J. B., Kanatzidis, M. G. & Hsu, K. F., 2017 4月 1, 於: Journal of Solid State Chemistry.248, p. 119-1257 p.
Lai, W. H., Haynes, A. S., Frazer, L., Chang, Y. M., Liu, T. K., Lin, J. F., Liang, I. C., Sheu, H. S., Ketterson, J. B., Kanatzidis, M. G. & Hsu, K. F., 2015 2月 24, 於: Chemistry of Materials.27, 4, p. 1316-132611 p.
Kuo, S. M., Chang, Y. M., Chung, I., Jang, J. I., Her, B. H., Yang, S. H., Ketterson, J. B., Kanatzidis, M. G. & Hsu, K. F., 2013 6月 25, 於: Chemistry of Materials.25, 12, p. 2427-24337 p.
Hsu, K. F., Hu, S. K., Chen, C. H., Cheng, M. Y., Tsay, S. Y., Chou, T. C., Sheu, H. S., Lee, J. F. & Hwang, B. J., 2009 7月 15, 於: Journal of Power Sources.192, 2, p. 660-6678 p.
Hwang, B. J., Hsu, K-F., Hu, S. K., Cheng, M. Y., Chou, T. C., Tsay, S. Y. & Santhanam, R., 2009 10月 20, 於: Journal of Power Sources.194, 1, p. 515-5195 p.
Androulakis, J., Hsu, K. F., Pcionek, R., Kong, H., Uher, C., D'Angelo, J. J., Downey, A., Hogan, T. & Kanatzidis, M. G., 2006 5月 2, 於: Advanced Materials.18, 9, p. 1170-11734 p.
Hsu, K. F., Loo, S., Guo, F., Chen, W., Dyck, J. S., Uher, C., Hogan, T., Polychroniadis, E. K. & Kanatzidis, M. G., 2004 2月 6, 於: Science.303, 5659, p. 818-8214 p.
Bilc, D., Mahanti, S. D., Quarez, E., Hsu, K. F., Pcionek, R. & Kanatzidis, M. G., 2004 10月 1, 於: Physical review letters.93, 14, p. 146403-1-146403-4 146403.
Liao, J. H., Marking, G. M., Hsu, K. F., Matsushita, Y., Ewbank, M. D., Borwick, R., Cunningham, P., Rosker, M. J. & Kanatzidis, M. G., 2003 8月 6, 於: Journal of the American Chemical Society.125, 31, p. 9484-949310 p.