• 1348 引文
  • 19 h-指數
1990 …2020

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個人檔案

學歷

  • 1991 美國南加州大學電機博士 Ph.D., Univ. of Southern California, U.S.A.

研究專長

  • 超大型積體電路設計與測試 VLSI Design and Testing
  • 超大型積體電路電腦輔助設計 VLSI Computer-Aided Design
  • 計算機演算法 Computer Algorithms
  • 超大型積體電路易測性設計與內建式自我測試VLSI Testable Design and Built-in Self Test

經歷

  • 1997-present 國立成功大學電機系教授
  • 1991 ~ 1997 國立成功大學電機系副教授
  • 2003/8~2004/1 美國史丹福大學訪問教授

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  • 19 類似的個人檔案

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專案

研究成果

  • A novel test generation method for small-delay defects with user-defined fault model

    Shang, C. J., Wu, C. H., Lee, K. J. & Chen, Y. H., 2019 四月, 2019 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test, VLSI-DAT 2019. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 8741773. (2019 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test, VLSI-DAT 2019).

    研究成果: Conference contribution

  • Deep Learning Based Test Compression Analyzer

    Wu, C. H., Huang, Y., Lee, K. J., Cheng, W. T., Veda, G., Reddy, S., Hu, C. C. & Ye, C. S., 2019 十二月, Proceedings - 2019 IEEE 28th Asian Test Symposium, ATS 2019. IEEE Computer Society, p. 1-6 6 p. 8949417. (Proceedings of the Asian Test Symposium; 卷 2019-December).

    研究成果: Conference contribution

  • Generating Compact Test Patterns for DC and AC Faults Using One ATPG Run

    Kung, Y. C., Lee, K. J. & Reddy, S. M., 2019 一月 23, International Test Conference 2018, ITC 2018 - Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 8624678. (Proceedings - International Test Conference; 卷 2018-October).

    研究成果: Conference contribution

  • 論文

    3D-IC Built-In Diagnosis Architecture for TSVs with Different Placement and Impact Ranges of Crosstalk Faults

    作者: 文軒, 許., 2016 二月 16

    監督員: Lee, K. (Supervisor)

    學生論文: Master's Thesis

    A High-Efficiency Hybrid Multicast Routing Approach for Mesh-Based Networks-on-Chip

    作者: 俊緯, 吳., 2018 二月 5

    監督員: Lee, K. (Supervisor)

    學生論文: Master's Thesis

    A Low Area Overhead BIST Architecture Based on Response Feedback and Logic Reseeding

    作者: 崇閔, 蕭., 2014 八月 11

    監督員: Lee, K. (Supervisor)

    學生論文: Master's Thesis

    A Novel Test Generation Method for Small-Delay Defects with User-defined Fault Model

    作者: 朝鈞, 商., 2019

    監督員: Lee, K. (Supervisor)

    學生論文: Master's Thesis

    A Run-Pause-Resume Silicon Debug Technique with Cycle-Granularity for Multiple Clock Domain Systems

    作者: 碩聯, 洪., 2017 八月 31

    監督員: Lee, K. (Supervisor)

    學生論文: Master's Thesis