按照存儲在普爾(Pure)的出版物數量及斯高帕斯(Scopus)引文計算。
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  • 2006

    Boundary Scan and Core-Based Testing

    Lee, K. J., 2006 1月 1, VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Elsevier, p. 557-618 62 p.

    研究成果: Chapter

    2 引文 斯高帕斯(Scopus)
  • Test Compression

    Li, X., Lee, K. J. & Touba, N. A., 2006 1月 1, VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Elsevier, p. 341-396 56 p.

    研究成果: Chapter

    4 引文 斯高帕斯(Scopus)