• 1350 引文
  • 19 h-指數
1990 …2020

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研究成果

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Conference article
2013

A new LFSR reseeding scheme via internal response feedback

Lien, W. C., Lee, K-J., Hsieh, T. Y. & Chakrabarty, K., 2013 一月 1, 於 : Proceedings of the Asian Test Symposium. p. 97-102 6 p., 6690622.

研究成果: Conference article

3 引文 斯高帕斯(Scopus)
2005
10 引文 斯高帕斯(Scopus)

An embedded processor based SOC test platform

Lee, K-J., Chu, C. Y. & Hong, Y. T., 2005 十二月 1, 於 : Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems. p. 2983-2986 4 p., 1465254.

研究成果: Conference article

25 引文 斯高帕斯(Scopus)
2004

A low-cost diagnosis methodology for pipelined A/D converters

Huang, C. H., Lee, K. J. & Chang, S. J., 2004 十二月 1, 於 : Proceedings of the Asian Test Symposium. p. 296-301 6 p.

研究成果: Conference article

5 引文 斯高帕斯(Scopus)
2001

A token scan architecture for low power testing

Huang, T. C. & Lee, K-J., 2001 十二月 1, 於 : IEEE International Test Conference (TC). p. 660-669 10 p.

研究成果: Conference article

31 引文 斯高帕斯(Scopus)
2000

Accelerated test pattern generators for mixed-mode BIST environments

Wang, W. L. & Lee, K. J., 2000 十二月 1, 於 : Proceedings of the Asian Test Symposium. p. 368-373 6 p.

研究成果: Conference article

2 引文 斯高帕斯(Scopus)

An on chip ADC test structure

Wen, Y. C. & Lee, K. J., 2000 十二月 1, 於 : Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE. p. 221-225 5 p., 840042.

研究成果: Conference article

38 引文 斯高帕斯(Scopus)

Hierarchical test control architecture for core based design

Lee, K. J. & Huang, C. I., 2000 十二月 1, 於 : Proceedings of the Asian Test Symposium. p. 248-253 6 p.

研究成果: Conference article

11 引文 斯高帕斯(Scopus)

Peak-power reduction for multiple-scan circuits during test application

Lee, K. J., Huang, T. C. & Chen, J. J., 2000 十二月 1, 於 : Proceedings of the Asian Test Symposium. p. 453-458 6 p.

研究成果: Conference article

60 引文 斯高帕斯(Scopus)
1999
32 引文 斯高帕斯(Scopus)
1998
2 引文 斯高帕斯(Scopus)

Using a single input to support multiple scan chains

Lee, K. J., Chen, J. J. & Huang, C. H., 1998 十二月 1, 於 : IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, Digest of Technical Papers. p. 74-78 5 p.

研究成果: Conference article

156 引文 斯高帕斯(Scopus)
1997

Built-in current sensor designs based on the bulk-driven technique

Huang, T. C., Huang, M. C. & Lee, K. J., 1997 十二月 1, 於 : Proceedings of the Asian Test Symposium. p. 384-388 5 p.

研究成果: Conference article

6 引文 斯高帕斯(Scopus)
1996
2 引文 斯高帕斯(Scopus)
6 引文 斯高帕斯(Scopus)
1995

New architecture for analog boundary scan

Lee, K-J., Jeng, S. Y. & Lee, T. P., 1995 一月 1, 於 : Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems. 1, p. 409-412 4 p.

研究成果: Conference article

2 引文 斯高帕斯(Scopus)
1990
19 引文 斯高帕斯(Scopus)
8 引文 斯高帕斯(Scopus)