每年專案
個人檔案
學歷
- 2013 比利時KULeuven大學博士
研究專長
- Semiconductor Physics and Devices
經歷
- 2009-2013 比利時校際微電子中心博士研究員
- 2014~present 國立成功大學電機系助理教授
指紋
查看啟用 Kuo-Hsing Kao 的研究主題。這些主題標籤來自此人的作品。共同形成了獨特的指紋。
- 1 類似的個人檔案
過去五年中的合作和熱門研究領域
國家/地區層面的近期外部共同作業。按一下圓點深入探索詳細資料,或
專案
- 9 已完成
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量子電子元件與人工智慧於半導體產業之應用 : 機器學習導向之量子傳輸模擬 及 與現今半導體製程相容之新穎元件製作( V )
22-02-01 → 23-01-31
研究計畫: Research project
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量子電子元件與人工智慧於半導體產業之應用 : 機器學習導向之量子傳輸模擬 及 與現今半導體製程相容之新穎元件製作( IV )
21-02-01 → 22-01-31
研究計畫: Research project
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量子電子元件與人工智慧於半導體產業之應用 : 機器學習導向之量子傳輸模擬及與現今半導體製程相容之新穎元件製作(3/5)
20-02-01 → 21-01-31
研究計畫: Research project
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量子電子元件與人工智慧於半導體產業之應用 : 機器學習導向之量子傳輸模擬 及 與現今半導體製程相容之新穎元件製作(2/5)
19-02-01 → 20-01-31
研究計畫: Research project
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19-02-01 → 20-01-31
研究計畫: Research project
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High-Performance Junctionless Ferroelectric Thin-Film Transistor for Low-Voltage and High-Speed Nonvolatile Memory Applications
Ma, W. C. Y., Su, C. J., Kao, K. H., Yen, Y. C., Yang, J. M., Li, Y. H., Chen, Y. C., Lin, J. Y. & Chang, H. W., 2025, 於: IEEE Transactions on Electron Devices. 72, 1, p. 247-252 6 p.研究成果: Article › 同行評審
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Impact of Pulse Voltage Stress on the Reliability of Ferroelectric Thin-Film Transistor
Ma, W. C. Y., Su, C. J., Kao, K. H., Yen, Y. C., Yang, J. M., Li, Y. H., Chen, Y. C., Lin, J. Y. & Chang, H. W., 2025, (Accepted/In press) 於: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability.研究成果: Article › 同行評審
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Statistical analysis of spurious dot formation in silicon metal-oxide-semiconductor single electron transistors
Chen, K. C., Godfrin, C., Simion, G., Fattal, I., Jussot, J., Kubicek, S., Beyne, S., Raes, B., Loenders, A., Kao, K. H., Wan, D. & De Greve, K., 2025 3月 15, 於: Physical Review B. 111, 12, 125301.研究成果: Article › 同行評審
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Yttrium Doped Hf0.5Zr0.5O2 Based Ferroelectric Capacitor Exhibiting Fatigue Free (>1012 cycles), Long Retention, and Imprint Immune Performance at 4 K
Agarwal, A., Walke, A. M., Ronchi, N., Popovici, M. I., Ma, W. C. Y., Su, C. J., Kao, K. H. & Houdt, J. V., 2025, (Accepted/In press) 於: IEEE Electron Device Letters.研究成果: Article › 同行評審
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ESD Robustness of Germanium Photodetectors in Advanced Silicon Photonics Technology
Chen, S. H., Fu, P. Y., Tsiara, A., Van De Peer, M., Simicic, M., Musibau, S., Ban, Y., Kao, K. H., Chen, W. C., Serbulova, K., Van Campenhout, J., Absil, P. & Croes, K., 2024, Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings 2024, EOS/ESD 2024. ESD Association, (Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings).研究成果: Conference contribution