每年研究成果
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個人檔案
學歷
- Georgia Institute of Technology 博士
研究專長
- 半導體可靠度與良率管理
- 機器學習與資料分析
- 半導體製程
指紋
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- 1 類似的個人檔案
過去五年中的合作和熱門研究領域
國家/地區層面的近期外部共同作業。按一下圓點深入探索詳細資料，或
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Long-term surgical outcomes of hemiarthroplasty for patients with femoral neck fracture with metal versus ceramic head in Taiwan
Huang, C. C., Fu, S. H., Liao, Y. H., Wang, J. D., Hsu, S. H., Chang, C. W. & Ku, L. J. E., 2024, (Accepted/In press) 於: Journal of the Formosan Medical Association.研究成果: Article › 同行評審
開啟存取1 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Extraction of wearout model parameters using on-line test of an SRAM
Hsu, S. H., Huang, Y. Y., Wu, Y. D., Yang, K., Lin, L. H. & Milor, L., 2020 11月, 於: Microelectronics Reliability. 114, 113756.研究成果: Article › 同行評審
開啟存取1 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Optimal Accelerated Test Framework for Time-Dependent Dielectric Breakdown Lifetime Parameter Estimation
Wu, Y. D., Yang, K., Hsu, S. H. & Milor, L., 2020 12月, 於: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems. 28, 12, p. 2658-2671 14 p., 9184236.研究成果: Article › 同行評審
2 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Optimal sampling for accelerated testing in 14 nm FinFET ring oscillators
Hsu, S. H., Huang, Y. Y., Wu, Y. D., Yang, K., Lin, L. H. & Milor, L., 2020 11月, 於: Microelectronics Reliability. 114, 113753.研究成果: Article › 同行評審
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Identification of Failure Modes for Circuit Samples with Confounded Causes of Failure
Hsu, S. H., Huang, Y. Y., Yang, K. & Milor, L., 2019 7月, 2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2019. Gizopoulos, D., Alexandrescu, D., Papavramidou, P. & Maniatakos, M. (編輯). Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 257-262 6 p. 8854409. (2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2019).研究成果: Conference contribution
2 引文 斯高帕斯（Scopus）