利用單一資料線之測試架構及其測試向量產生方法

Kuen-Jong Lee (Inventor)

研究成果: Patent

摘要

本案為一種測試向量產生方法,尤指利用單一資料線之測試架構及其測試向量產生方法。 掃描設計為易測試性設計中最常被工業界接受而使用的方法之一,其主要功能在於可大幅降低自動測試向量產生(Automatic Test Pattern Generation, ATPG)過程的複雜度。然而當一條掃描線所包含之掃描元件太多時,其所需測試時間亦相當長。
原文Chinese
專利號399151
出版狀態Published - 1800

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