利用單一資料線之測試架構及其測試向量產生方法

本案為一種測試向量產生方法，尤指利用單一資料線之測試架構及其測試向量產生方法。 掃描設計為易測試性設計中最常被工業界接受而使用的方法之一，其主要功能在於可大幅降低自動測試向量產生(Automatic Test Pattern Generation, ATPG)過程的複雜度。然而當一條掃描線所包含之掃描元件太多時，其所需測試時間亦相當長。