微電子廠房結構震動特性之分西試驗與減振評估

George C. Yao, 林義祥

研究成果: Conference contribution

貢獻的翻譯標題微電子廠房結構震動特性之分西試驗與減振評估
原文???core.languages.zh_ZH???
主出版物標題第二十屆中日工程技術研討會公共工程組
出版地台南市成功大學
出版狀態Published - 1999

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