檢測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法

Fan-Tien Cheng (Inventor)

研究成果: Patent

摘要

一種偵測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法。此偵測產品品質超規的方法係應用分類與迴歸樹(Classification and Regression Tree;CART)方法來建構代表製程參數與產品超規間之關係的FD(Fault Detection;品質超規偵測)模型,以於生產線上即時偵測出製程資料參數值皆在規格內(正常)而其產品品質卻超出規格的情況。此評估產品實際量測值的方法根據自適應性共振理論2 (Adaptive Resonance Theory 2;ART2)及標準化變異(Normalized Variability;NV) 來建立DQIy(量測資料品質指標)模型。
原文Chinese
專利號ZL 2008 1 0181649.2
出版狀態Published - 2010 六月 16

引用此文

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TY - PAT

T1 - 檢測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法

AU - Cheng, Fan-Tien

PY - 2010/6/16

Y1 - 2010/6/16

N2 - 一種偵測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法。此偵測產品品質超規的方法係應用分類與迴歸樹(Classification and Regression Tree;CART)方法來建構代表製程參數與產品超規間之關係的FD(Fault Detection;品質超規偵測)模型,以於生產線上即時偵測出製程資料參數值皆在規格內(正常)而其產品品質卻超出規格的情況。此評估產品實際量測值的方法根據自適應性共振理論2 (Adaptive Resonance Theory 2;ART2)及標準化變異(Normalized Variability;NV) 來建立DQIy(量測資料品質指標)模型。

AB - 一種偵測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法。此偵測產品品質超規的方法係應用分類與迴歸樹(Classification and Regression Tree;CART)方法來建構代表製程參數與產品超規間之關係的FD(Fault Detection;品質超規偵測)模型,以於生產線上即時偵測出製程資料參數值皆在規格內(正常)而其產品品質卻超出規格的情況。此評估產品實際量測值的方法根據自適應性共振理論2 (Adaptive Resonance Theory 2;ART2)及標準化變異(Normalized Variability;NV) 來建立DQIy(量測資料品質指標)模型。

M3 - Patent

M1 - ZL 2008 1 0181649.2

ER -

Cheng F-T, 發明者. 檢測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法. ZL 2008 1 0181649.2. 2010 6月 16.