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A novel fault detection and classification scheme for DC microgrid based on transient reactor voltage with localized back-up scheme
Saurabh Sharma, Manoj Tripathy,
Li Wang
電機工程學系
研究成果
:
Article
›
同行評審
9
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「A novel fault detection and classification scheme for DC microgrid based on transient reactor voltage with localized back-up scheme」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Microgrids
100%
Fault detection
92%
Electric potential
51%
Cables
39%
Electric fault currents
28%
Communication
24%
Outages
22%
Renewable energy resources
19%
Uncertainty
15%
Computer hardware
14%