A study of germanium/SiO2 MIS structures by the use of secondary ion mass spectrometry

K. L. Wang, H. A. Storms

研究成果: Article同行評審

5 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「A study of germanium/SiO<sub>2</sub> MIS structures by the use of secondary ion mass spectrometry」主題。共同形成了獨特的指紋。

Physics & Astronomy