analog to digital converter system for residue oversampling and method thereof

貢獻的翻譯標題: 適用於殘值超取樣之類比數位轉換系統及其方法

Soon-Jyh Chang (Inventor)

研究成果: Patent

摘要

本發明有關於一種適用於殘值超取樣之類比數位轉換系統及其方法,係針對類比輸入電壓做一次性取樣與多次性量化程序,以降低雜訊影響,系統包括有取樣電路單元、第一類比數位轉換器、洗牌電路單元、數位類比轉換器、類比減法單元、第二類比數位轉換器與第一解碼器;藉此,本發明藉由排列不同電容陣列以產生不同的電壓殘值,以對該等電壓殘值解析出一精確之數位碼,在不需要使用複雜校正電路的前提下,即可有效達到增加類比數位轉換器精確度之優勢。
貢獻的翻譯標題適用於殘值超取樣之類比數位轉換系統及其方法
原文English
專利號I561013
出版狀態Published - 1800

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