antigen-detection complex and antigen-detection kit

貢獻的翻譯標題: 抗原檢測基質以及抗原檢測套組

Pau-Choo Chung (Inventor), Dar-Bin Shieh (Inventor)

研究成果: Patent

摘要

本發明係有關於一種抗原檢測基質以及抗原檢測套組。本發明之抗原檢測基質包括:一磁珠,其直徑為1nm-10μm﹔複數第一DNA片段,其一端係與該磁珠連接,且該第一DNA片段之長度係為5mer至40mer之間﹔以及複數第一抗體,其係分別與一第二DNA片段連接,該第二DNA片段與該第一DNA片段配對,該複數第一抗體係分別具有一第一抗原辨識區域,
原文English
專利號I428597
出版狀態Published - 1800

引用此文

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TY - PAT

T1 - antigen-detection complex and antigen-detection kit

AU - Chung, Pau-Choo

AU - Shieh, Dar-Bin

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 本發明係有關於一種抗原檢測基質以及抗原檢測套組。本發明之抗原檢測基質包括:一磁珠,其直徑為1nm-10μm﹔複數第一DNA片段,其一端係與該磁珠連接,且該第一DNA片段之長度係為5mer至40mer之間﹔以及複數第一抗體,其係分別與一第二DNA片段連接,該第二DNA片段與該第一DNA片段配對,該複數第一抗體係分別具有一第一抗原辨識區域,

AB - 本發明係有關於一種抗原檢測基質以及抗原檢測套組。本發明之抗原檢測基質包括:一磁珠,其直徑為1nm-10μm﹔複數第一DNA片段,其一端係與該磁珠連接,且該第一DNA片段之長度係為5mer至40mer之間﹔以及複數第一抗體,其係分別與一第二DNA片段連接,該第二DNA片段與該第一DNA片段配對,該複數第一抗體係分別具有一第一抗原辨識區域,

M3 - Patent

M1 - I428597

ER -