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BIST and diagnosis of fully logic blocks in FPGAs

  • Cheng-Wen Wu
  • , S.-K. Lu
  • , J.-S. Shih

研究成果: Conference contribution

原文English
主出版物標題11th VLSI Design/CAD Symposium
出版地Pingtung
出版狀態Published - 2000 8月

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