跳至主導覽
跳至搜尋
跳過主要內容
國立成功大學 首頁
English
中文
在 國立成功大學 搜尋內容
首頁
概要
研究單位
研究成果
專案
學生論文
設備
獎項
活動
BIST scheme for DAC testing
Soon-Jyh Chang
, C. L. Lee
, J. E. Chen
電機工程學系
研究成果
:
Article
›
同行評審
23
連結會在新分頁中打開
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「BIST scheme for DAC testing」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Converter Testing
100%
Physics
Self Test
100%
Engineering
Code Performance
20%