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Characterization of interfacial properties in magnetic tunnel junctions by bias-dependent complex impedance spectroscopy
C. Y. Hsu
,
J. C.A. Huang
物理學系
奈米積體電路工程碩士學位學程
研究成果
:
Conference contribution
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指紋
指紋
深入研究「Characterization of interfacial properties in magnetic tunnel junctions by bias-dependent complex impedance spectroscopy」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
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按字母排序