Defect level prediction using multi-model fault coverage

S.-K. Lu, T.-Y. Lee, Cheng-Wen Wu

研究成果: Conference contribution

6 引文 斯高帕斯(Scopus)
原文English
主出版物標題10th VLSI Design/CAD Symposium
出版地Nantou
頁面195-198
出版狀態Published - 1999 八月

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