Design and Evaluation of Fault-Tolerant Interleaved Memory Systems

S.-K. Lu, S.-Y. Kuo, Cheng-Wen Wu

研究成果: Conference contribution

原文English
主出版物標題3rd IEEE Asian Test Symposium (ATS)
出版地Nara
頁面354-359
出版狀態Published - 1994 十一月

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