detection method for antigen

貢獻的翻譯標題: 抗原檢測方法

Dar-Bin Shieh (Inventor)

研究成果: Patent

摘要

本發明係有關於一種抗原檢測方法,係用以檢測一第一抗原,包括步驟:(A)提供複數表面連接有第一DNA片段之磁珠;提供複數第一抗體,其藉由第二DNA片段與第一DNA片段配對而連接至磁珠,使形成複數抗原檢測基質﹔(B)將待檢測樣品與抗原檢測基質接觸﹔(C)加熱至預設溫度,使該第一DNA片段與該第二DNA片段分離,並得到第一溶液﹔(D)提供一基板,且基板之表面係與複數第二抗體連結(immobilize),
原文English
專利號I484184
出版狀態Published - 1800

引用此文

Shieh, D-B. (1800). detection method for antigen. (專利號 I484184).
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Shieh, D-B 1800, detection method for antigen, 專利號 I484184.

detection method for antigen. / Shieh, Dar-Bin (Inventor).

專利號: I484184.

研究成果: Patent

TY - PAT

T1 - detection method for antigen

AU - Shieh, Dar-Bin

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 本發明係有關於一種抗原檢測方法,係用以檢測一第一抗原,包括步驟:(A)提供複數表面連接有第一DNA片段之磁珠;提供複數第一抗體,其藉由第二DNA片段與第一DNA片段配對而連接至磁珠,使形成複數抗原檢測基質﹔(B)將待檢測樣品與抗原檢測基質接觸﹔(C)加熱至預設溫度,使該第一DNA片段與該第二DNA片段分離,並得到第一溶液﹔(D)提供一基板,且基板之表面係與複數第二抗體連結(immobilize),

AB - 本發明係有關於一種抗原檢測方法,係用以檢測一第一抗原,包括步驟:(A)提供複數表面連接有第一DNA片段之磁珠;提供複數第一抗體,其藉由第二DNA片段與第一DNA片段配對而連接至磁珠,使形成複數抗原檢測基質﹔(B)將待檢測樣品與抗原檢測基質接觸﹔(C)加熱至預設溫度,使該第一DNA片段與該第二DNA片段分離,並得到第一溶液﹔(D)提供一基板,且基板之表面係與複數第二抗體連結(immobilize),

M3 - Patent

M1 - I484184

ER -

Shieh D-B, 發明者. detection method for antigen. I484184. 1800.