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概要
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研究成果
專案
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設備
活動
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Electric field measuring by phase selective photoreflectance
J. S. Hwang,
W. Y. Chou
,
S. L. Tyan
, Y. C. Wang, H. Shen
光電科學與工程學系
物理學系
研究成果
:
Conference article
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Electric field measuring by phase selective photoreflectance」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Buffer layers
38%
Electric fields
100%
Interface states
41%
Molecular beam epitaxy
42%
Substrates
19%
Physics & Astronomy
amplifiers
21%
buffers
45%
electric fields
63%
homojunctions
35%
oscillations
17%
phase shift
22%
retarding
20%
Chemical Compounds
Buffer Solution
35%
Electric Field
97%
Interface State
41%