摘要
In this paper, we use rf magnetron sputtering method to fabricate InGaZnO thin-film transistors. We use surface energy to identify the relationship between InGaZnO thin-film transistors with various annealing temperature. We also examine the InGaZnO TFT devices characteristic and hysteresis.
| 原文 | English |
|---|---|
| 主出版物標題 | 22nd International Display Workshops, IDW 2015 |
| 發行者 | International Display Workshops |
| 頁面 | 121-124 |
| 頁數 | 4 |
| ISBN(電子) | 9781510845503 |
| 出版狀態 | Published - 2015 |
| 事件 | 22nd International Display Workshops, IDW 2015 - Otsu, Japan 持續時間: 2015 12月 9 → 2015 12月 11 |
出版系列
| 名字 | Proceedings of the International Display Workshops |
|---|---|
| 卷 | 1 |
| ISSN(列印) | 1883-2490 |
Other
| Other | 22nd International Display Workshops, IDW 2015 |
|---|---|
| 國家/地區 | Japan |
| 城市 | Otsu |
| 期間 | 15-12-09 → 15-12-11 |
UN SDG
此研究成果有助於以下永續發展目標
-
SDG 3 良好的健康和福祉
All Science Journal Classification (ASJC) codes
- 電腦視覺和模式識別
- 人機介面
- 電氣與電子工程
- 電子、光磁材料
- 放射學、核子醫學和影像學
指紋
深入研究「Electrical properties of a-IGZO TFT with various annealing temperature」主題。共同形成了獨特的指紋。引用此
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver