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Evidence of the two surface states of (Bi 0.53 Sb 0.47) 2 Te 3 films grown by van der Waals epitaxy
Liang He
, Xufeng Kou
, Murong Lang
, Eun Sang Choi
, Ying Jiang
, Tianxiao Nie
, Wanjun Jiang
, Yabin Fan
, Yong Wang
, Faxian Xiu
, Kang L. Wang
電機資訊學院
研究成果
:
Article
›
同行評審
36
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Evidence of the two surface states of (Bi 0.53 Sb 0.47) 2 Te 3 films grown by van der Waals epitaxy」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Buffer Layer
33%
Carrier Density
33%
Conduction Properties
33%
Dirac Electrons
33%
GaSe
33%
Hall Mobility
33%
High-quality Films
33%
Hole Conduction
33%
Metallic Surface State
33%
New Physics
33%
Quantum Oscillations
33%
Quantum Physics
33%
Spintronic Applications
33%
Spintronics
33%
Surface States
100%
Topological Insulator
100%
Topological States
33%
Ultra-low
33%
Van Der Waals
33%
Van Der Waals Epitaxy
100%
Material Science
Buffer Layer
20%
Carrier Concentration
20%
Epitaxy
100%
Film
100%
Hall Mobility
20%
Surface (Surface Science)
100%
Thin Films
20%
Physics
Epitaxy
100%
Physics
33%
Quantum Physics
33%
Spintronics
66%
Thin Films
33%
Topological Insulator
100%