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Extended van-Hove singularity in Sr
2
RuO
4
observed by angle-resolved photoemission
T. Yokoya, A. Chainani, T. Takahashi, H. Katayama-Yoshida, M. Kasai, Y. Tokura
物理學系
研究成果
:
Article
›
同行評審
4
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Extended van-Hove singularity in Sr
2
RuO
4
observed by angle-resolved photoemission」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Photoemission
100%
Photoelectron spectroscopy
94%
Electronic states
88%
Superconducting materials
72%
Crystal structure
71%
Electrons
55%
Metals
35%
Temperature
22%
Physics & Astronomy
trucks
60%
photoelectric emission
48%
cuprates
37%
examination
15%
crystal structure
14%
electrical resistivity
11%
high resolution
11%
spectroscopy
9%
electronics
9%
metals
9%
electrons
7%
Chemical Compounds
Photoemission
67%
Superconductor
62%
Electronic State
40%
Crystal Structure
27%
Metal
25%