Fabrication of bismuth nanowire devices using focused ion beam milling

H. H. Cheng, M. M. Alkaisi, S. E. Wu, C. P. Liu

研究成果: Conference contribution

2 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Fabrication of bismuth nanowire devices using focused ion beam milling」主題。共同形成了獨特的指紋。

Physics & Astronomy