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Free carrier absorption in P-type epitaxial Si and GaAs films for far-infrared detection

  • A. G.U. Perera
  • , W. Z. Shen
  • , M. O. Tanner
  • , K. L. Wang
  • , W. Schaff

研究成果: Conference article › 同行評審

指紋

深入研究「Free carrier absorption in P-type epitaxial Si and GaAs films for far-infrared detection」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Engineering

Material Science