Gate current dependent hot-carrier-induced degradation in LDMOS transistors
- J. F. Chen
- , K. S. Tian
- , S. Y. Chen
- , J. R. Lee
- , K. M. Wu
- , T. Y. Huang
- , C. M. Liu
研究成果: Article › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）