Global parameter extraction for a multi-gate MOSFETs compact model

Shijing Yao, Tanvir H. Morshed, Darsen Lu, Sriramkumar Venugopalan, Weize Xiong, C. R. Cleavelin, Ali M. Niknejad, Chenming Hu

研究成果: Conference contribution

13 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Global parameter extraction for a multi-gate MOSFETs compact model」主題。共同形成了獨特的指紋。

Engineering & Materials Science