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High-breakdown voltage Al0.66In0.34As0.85Sb0.15/In 0.75Ga0.25As/InP heterostructure field-effect transistors

  • Jan Shing Su
  • , Wei Chou Hsu
  • , Dong Tsuen Lin
  • , Wei Lin
  • , Hung Pin Shiao
  • , Yu Shyan Lin
  • , Jean Zen Huang
  • , Piin Jye Chou

研究成果: Article同行評審

20   連結會在新分頁中開啟 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「High-breakdown voltage Al0.66In0.34As0.85Sb0.15/In 0.75Ga0.25As/InP heterostructure field-effect transistors」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Engineering

Material Science