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Larger surface profile measurement of microstructures by white-light phase-shifting interferometry and image stitching
Terry Yuan-Fang Chen
, L. C. Yeh
機械工程學系
研究成果
:
Conference contribution
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指紋
指紋
深入研究「Larger surface profile measurement of microstructures by white-light phase-shifting interferometry and image stitching」主題。共同形成了獨特的指紋。
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Engineering & Materials Science
Interferometry
Microstructure
Liquid crystal displays
Lighting
Pixels