MEASURING APPARATUS FOR MEASURING A PLURALITY OF ELECTRICAL PARAMETERS OF A CIRCUIT AND MEASURING METHOD THEREOF

貢獻的翻譯標題: 用以量測一電路之複數電性參數的量測裝置及其量測方法

Chu-Sing Yang (Inventor)

研究成果: Patent

摘要

本案提出一種用以量測一電路之複數電性參數的量測裝置,其包含複數量測單元、複數接點群組、以及複數陣列式切換電路。該複數量測單元用以量測該複數電性參數。該複數陣列式切換電路分別電連接於該複數量測單元及該複數接點群組,用以分別可選擇地導通該複數陣列式切換電路至少其中之一及至少一相對應該接點群組中之一接點。
原文English
專利號I484713
出版狀態Published - 1800

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