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Measuring long-range carrier diffusion across multiple grains in polycrystalline semiconductors by photoluminescence imaging
K. Alberi, B. Fluegel, H. Moutinho, R. G. Dhere, J. V. Li, A. Mascarenhas
航空太空工程學系
研究成果
:
Article
›
同行評審
38
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Measuring long-range carrier diffusion across multiple grains in polycrystalline semiconductors by photoluminescence imaging」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Chemical Compounds
Polycrystalline Solid
62%
Photoluminescence
53%
Semiconductor
53%
Diffusion
43%
Deep Trap
35%
Hole Transport
27%
Grain Boundary
24%
Optoelectronics
21%
Solar Cell
20%
Physics & Astronomy
photoluminescence
49%
defects
38%
thin films
24%
imaging techniques
22%
integrated circuits
22%
traps
17%
solar cells
17%
grain boundaries
17%
conduction
15%
electronics
12%
Medicine & Life Sciences
Temperature
50%
Technology
23%