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活動
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Metal-semiconductor-metal photodetectors using widegap semiconductor capping layer
Hsin Ying Lee
,
Ching Ting Lee
光電科學與工程學系
研究成果
:
Conference contribution
總覽
指紋
指紋
深入研究「Metal-semiconductor-metal photodetectors using widegap semiconductor capping layer」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Photodetectors
79%
Semiconductor materials
54%
Metals
39%
Dark currents
15%
Voltage measurement
12%
Electric current measurement
12%
Photons
12%
Energy gap
11%
Electric fields
9%
Wavelength
9%
Temperature
4%
Chemical Compounds
Schottky Contact
100%
Semiconductor
46%
Photon
19%
Electric Field
18%
Band Gap
15%
Wavelength
14%