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活動
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Metal-semiconductor-metal photodetectors using widegap semiconductor capping layer
Hsin Ying Lee
,
Ching Ting Lee
光電科學與工程學系
研究成果
:
Conference contribution
總覽
指紋
指紋
深入研究「Metal-semiconductor-metal photodetectors using widegap semiconductor capping layer」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Applied Bias
25%
Barrier Height
25%
Capping Layer
100%
Carrier Confinement
25%
Contact Parameters
25%
Contact Performance
25%
Current-voltage Measurements
25%
Dark Current-voltage
25%
Depletion Region
25%
Electric Field (E-field)
25%
Electrical Behavior
25%
Gallium Arsenide
25%
Metal-semiconductor-metal Photodetector
100%
Photoresponsivity
25%
Reverse Characteristics
25%
Schottky Contact
75%
Wide Band Gap Semiconductors
100%
Wide Bandgap Materials
25%
Material Science
Gallium Arsenide
25%
Photosensor
100%
Schottky Barrier
75%