METHOD FOR EVALUATING RELIANCE LEVEL OF A VIRTUAL METROLOGY SYSTEM IN PRODUCT MANUFACTURING

貢獻的翻譯標題: 生產製程之虛擬量測系統之信心度的評估方法

Fan-Tien Cheng (Inventor)

研究成果: Patent

摘要

一種虛擬量測系統之信心度的評估方法。此方法係藉由分析生產機台的製程參數資料,來計算出信心指標?(Reliance Index;RI)和信心指標門檻?(RI Threshold;RIT),以判斷虛擬量測系統的預測結果是否可被信賴。此外,此方法亦計算出製程參數相似度指標?(Process Data Similarity Index;SI),藉以定義出目前輸入之製程參數資料與用來訓練建模用之所有參數資料的相似程度,來輔助信心指標之判斷。
原文English
專利號I315054
出版狀態Published - 1800

引用此文

@misc{36647bb1869849b6a54762d1e53dc94d,
title = "METHOD FOR EVALUATING RELIANCE LEVEL OF A VIRTUAL METROLOGY SYSTEM IN PRODUCT MANUFACTURING",
abstract = "一種虛擬量測系統之信心度的評估方法。此方法係藉由分析生產機台的製程參數資料,來計算出信心指標?(Reliance Index;RI)和信心指標門檻?(RI Threshold;RIT),以判斷虛擬量測系統的預測結果是否可被信賴。此外,此方法亦計算出製程參數相似度指標?(Process Data Similarity Index;SI),藉以定義出目前輸入之製程參數資料與用來訓練建模用之所有參數資料的相似程度,來輔助信心指標之判斷。",
author = "Fan-Tien Cheng",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I315054",

}

TY - PAT

T1 - METHOD FOR EVALUATING RELIANCE LEVEL OF A VIRTUAL METROLOGY SYSTEM IN PRODUCT MANUFACTURING

AU - Cheng, Fan-Tien

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種虛擬量測系統之信心度的評估方法。此方法係藉由分析生產機台的製程參數資料,來計算出信心指標?(Reliance Index;RI)和信心指標門檻?(RI Threshold;RIT),以判斷虛擬量測系統的預測結果是否可被信賴。此外,此方法亦計算出製程參數相似度指標?(Process Data Similarity Index;SI),藉以定義出目前輸入之製程參數資料與用來訓練建模用之所有參數資料的相似程度,來輔助信心指標之判斷。

AB - 一種虛擬量測系統之信心度的評估方法。此方法係藉由分析生產機台的製程參數資料,來計算出信心指標?(Reliance Index;RI)和信心指標門檻?(RI Threshold;RIT),以判斷虛擬量測系統的預測結果是否可被信賴。此外,此方法亦計算出製程參數相似度指標?(Process Data Similarity Index;SI),藉以定義出目前輸入之製程參數資料與用來訓練建模用之所有參數資料的相似程度,來輔助信心指標之判斷。

M3 - Patent

M1 - I315054

ER -