NON-CONTACT PLANAR MICROWAVE MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD THEREOF

貢獻的翻譯標題: 非接觸式平面微波量測元件及其量測方法

研究成果: Patent

摘要

一種非接觸式平面微波量測元件包含一基板、二饋入端以及一導線。基板具有相對設置之一第一表面及一第二表面。二饋入端分別設置於基板之二端。導線設置於第一表面上並電性連接該等饋入端。第二表面具有三諧振元件，該等諧振元件之該等諧振電流長度係不等長。

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title = "NON-CONTACT PLANAR MICROWAVE MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD THEREOF",

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author = "Chin-Lung Yang",

year = "1800",

language = "English",

type = "Patent",

note = "I603079",

}

TY - PAT

T1 - NON-CONTACT PLANAR MICROWAVE MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD THEREOF

AU - Yang, Chin-Lung

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種非接觸式平面微波量測元件包含一基板、二饋入端以及一導線。基板具有相對設置之一第一表面及一第二表面。二饋入端分別設置於基板之二端。導線設置於第一表面上並電性連接該等饋入端。第二表面具有三諧振元件，該等諧振元件之該等諧振電流長度係不等長。

AB - 一種非接觸式平面微波量測元件包含一基板、二饋入端以及一導線。基板具有相對設置之一第一表面及一第二表面。二饋入端分別設置於基板之二端。導線設置於第一表面上並電性連接該等饋入端。第二表面具有三諧振元件，該等諧振元件之該等諧振電流長度係不等長。

M3 - Patent

M1 - I603079

ER -