Normal-incidence strained-layer superlattice Ge0.5Si 0.5/Si photodiodes near 1.3 μm

F. Y. Huang, X. Zhu, M. O. Tanner, K. L. Wang

研究成果: Article同行評審

73 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Normal-incidence strained-layer superlattice Ge<sub>0.5</sub>Si <sub>0.5</sub>/Si photodiodes near 1.3 μm」主題。共同形成了獨特的指紋。

Physics & Astronomy