OPTICAL INSPECTION APPARATUS

貢獻的翻譯標題: 光學檢測裝置

Pau-Choo Chung (Inventor), Dar-Bin Shieh (Inventor)

研究成果: Patent

摘要

一種光學檢測裝置,用以偵測一組織,包含一第一本體、一第二本體及一連接部。第二本體具有一檢測部,檢測部具有至少一發光單元及至少一光感測單元,發光單元發出一光線進入組織,光感測單元接收經由組織射出之光線而產生一感測訊號。連接部與第一本體及第二本體連接,第一本體與第二本體具有一第一相對位置,且第二本體藉由連接部並利用延伸、滑動或旋轉與第一本體改變至一第二相對位置。
原文English
專利號I434674
出版狀態Published - 1800

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