OPTICAL PARAMETER MEASURING APPARATUS AND OPTICAL PARAMETER MEASURING METHOD

貢獻的翻譯標題: 光學參數測量裝置與光學參數測量方法

Yu-Lung Lo (Inventor)

研究成果: Patent

摘要

一種光學參數測量裝置係用以測量一物件之光學參數,並包含一光源、一偏振模組、一史托克斯偏振儀以及一計算模組。光源發出一光線。偏振模組使該光線成為至少一偏振光,該偏振光經過物件後由史托克斯偏振儀接收。計算模組係依據史托克斯偏振儀所產生之光資訊、物件之線性雙折射、旋性雙折射、線性雙衰減、旋性雙衰減之穆勒矩陣以及依據該等穆勒矩陣建立之一史托克斯向量計算該等矩陣之光學參數。
貢獻的翻譯標題光學參數測量裝置與光學參數測量方法
原文English
專利號I477757
出版狀態Published - 1800

引用此