Point defects in sputtered NiO films

Wei Luen Jang, Yang Ming Lu, Weng Sing Hwang, Tung Li Hsiung, H. Paul Wang

研究成果: Article同行評審

104 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Point defects in sputtered NiO films」主題。共同形成了獨特的指紋。

Physics & Astronomy