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國立成功大學 首頁
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Pressure effects on strained FeSe
0.5
Te
0.5
thin films
M. Gooch, B. Lorenz, S. X. Huang, C. L. Chien, C. W. Chu
副校長室
研究成果
:
Article
›
同行評審
9
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Pressure effects on strained FeSe
0.5
Te
0.5
thin films」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Physics & Astronomy
anions
41%
chalcogenides
22%
electrical resistivity
13%
iron
15%
pressure effects
100%
thin films
45%