PROBE

貢獻的翻譯標題: 探針

研究成果: Patent

摘要

一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭設置於支持元件遠離基座之一端，探針頭具有至少一凹槽。本發明之探針可因應特殊檢測工作的需求。

@misc{4648489188dd40ca9181c59c2acc7792,

title = "PROBE",

abstract = "一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭設置於支持元件遠離基座之一端，探針頭具有至少一凹槽。本發明之探針可因應特殊檢測工作的需求。",

author = "Hao-Chih Liu",

year = "1800",

language = "English",

type = "Patent",

note = "I407107",

}

TY - PAT

T1 - PROBE

AU - Liu, Hao-Chih

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭設置於支持元件遠離基座之一端，探針頭具有至少一凹槽。本發明之探針可因應特殊檢測工作的需求。

AB - 一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭設置於支持元件遠離基座之一端，探針頭具有至少一凹槽。本發明之探針可因應特殊檢測工作的需求。

M3 - Patent

M1 - I407107

ER -