PROBE

貢獻的翻譯標題: 探針

Hao-Chih Liu (Inventor)

研究成果: Patent

摘要

一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭設置於支持元件遠離基座之一端,探針頭具有至少一凹槽。本發明之探針可因應特殊檢測工作的需求。
原文English
專利號I407107
出版狀態Published - 1800

引用此文

Liu, H-C. (1800). PROBE. (專利號 I407107).
Liu, Hao-Chih (Inventor). / PROBE. 專利號: I407107.
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Liu, H-C 1800, PROBE, 專利號 I407107.

PROBE. / Liu, Hao-Chih (Inventor).

專利號: I407107.

研究成果: Patent

TY - PAT

T1 - PROBE

AU - Liu, Hao-Chih

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭設置於支持元件遠離基座之一端,探針頭具有至少一凹槽。本發明之探針可因應特殊檢測工作的需求。

AB - 一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭設置於支持元件遠離基座之一端,探針頭具有至少一凹槽。本發明之探針可因應特殊檢測工作的需求。

M3 - Patent

M1 - I407107

ER -

Liu H-C, 發明者. PROBE. I407107. 1800.