PROBE

貢獻的翻譯標題: 探針

研究成果: Patent

摘要

一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭係為一錐體，並設置於支持元件遠離基座之一端，探針頭具有一第一表面及鄰接的一第二表面，第一表面具有至少一第一轉折，第二表面具有至少一第二轉折

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title = "PROBE",

abstract = "一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭係為一錐體，並設置於支持元件遠離基座之一端，探針頭具有一第一表面及鄰接的一第二表面，第一表面具有至少一第一轉折，第二表面具有至少一第二轉折",

author = "Hao-Chih Liu",

year = "1800",

language = "English",

type = "Patent",

note = "I410635",

}

TY - PAT

T1 - PROBE

AU - Liu, Hao-Chih

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭係為一錐體，並設置於支持元件遠離基座之一端，探針頭具有一第一表面及鄰接的一第二表面，第一表面具有至少一第一轉折，第二表面具有至少一第二轉折

AB - 一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭係為一錐體，並設置於支持元件遠離基座之一端，探針頭具有一第一表面及鄰接的一第二表面，第一表面具有至少一第一轉折，第二表面具有至少一第二轉折

M3 - Patent

M1 - I410635

ER -