Hao-Chih Liu (Inventor)
研究成果: Patent
}
TY - PAT
T1 - PROBE WAFER
AU - Liu, Hao-Chih
PY - 1800
Y1 - 1800
N2 - 一種探針晶圓包括一邊界結構以及複數探針單元。該等探針單元係由邊界結構區分,各探針單元具有複數探針元件。本發明之探針晶圓可於探針的製作上具有相當彈性,並可提高製程良率且降低製作成本。
AB - 一種探針晶圓包括一邊界結構以及複數探針單元。該等探針單元係由邊界結構區分,各探針單元具有複數探針元件。本發明之探針晶圓可於探針的製作上具有相當彈性,並可提高製程良率且降低製作成本。
M3 - Patent
M1 - I484190
ER -