Proceedings of the Asian Test Symposium: Foreword

Kuen Jong Lee, Shi Yu Huang, Chau Chin Su, Ming Der Shieh

研究成果: Conference contribution

原文English
主出版物標題Proceedings of the Asian Test Symposium, ATS'04
頁面xi
DOIs
出版狀態Published - 2004 十二月 1
事件Proceedings of the Asian Test Symposium, ATS'04 - Kenting, Taiwan
持續時間: 2004 十一月 152004 十一月 17

出版系列

名字Proceedings of the Asian Test Symposium
ISSN(列印)1081-7735

Other

OtherProceedings of the Asian Test Symposium, ATS'04
國家Taiwan
城市Kenting
期間04-11-1504-11-17

All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • Electrical and Electronic Engineering

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