PRODUCT QUALITY FAULT DETECTION METHOD AND REAL METROLGY DATA EVALUATION

貢獻的翻譯標題: 偵測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法

Fan-Tien Cheng (Inventor)

研究成果: Patent

摘要

一種偵測產品品質超規與評估產品實際量測?的方法。此偵測產品品質超規的方法係應用分類與迴歸樹(Classification and Regression Tree;CART)方法來建構代表製程參數與產品超規間之關係的FD(Fault Detection;品質超規偵測)模型,以於生產線上即時偵測出製程資料參數?皆在規格內(正常)而其產品品質卻超出規格的情況。此評估產品實際量測?的方法根據自適應性共振理論2(Adaptive Resonance Theory 2;ART2)
原文English
專利號I400619
出版狀態Published - 1800

引用此文

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TY - PAT

T1 - PRODUCT QUALITY FAULT DETECTION METHOD AND REAL METROLGY DATA EVALUATION

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N2 - 一種偵測產品品質超規與評估產品實際量測?的方法。此偵測產品品質超規的方法係應用分類與迴歸樹(Classification and Regression Tree;CART)方法來建構代表製程參數與產品超規間之關係的FD(Fault Detection;品質超規偵測)模型,以於生產線上即時偵測出製程資料參數?皆在規格內(正常)而其產品品質卻超出規格的情況。此評估產品實際量測?的方法根據自適應性共振理論2(Adaptive Resonance Theory 2;ART2)

AB - 一種偵測產品品質超規與評估產品實際量測?的方法。此偵測產品品質超規的方法係應用分類與迴歸樹(Classification and Regression Tree;CART)方法來建構代表製程參數與產品超規間之關係的FD(Fault Detection;品質超規偵測)模型,以於生產線上即時偵測出製程資料參數?皆在規格內(正常)而其產品品質卻超出規格的情況。此評估產品實際量測?的方法根據自適應性共振理論2(Adaptive Resonance Theory 2;ART2)

M3 - Patent

M1 - I400619

ER -