QUALITY PROGNOSTICS SYSTEM AND METHOD FOR MANUFACTURING PROCESSES WITH GENERIC EMBEDDED DEVICES

貢獻的翻譯標題: 應用通用型嵌入式裝置之生產製程的品質預測系統與方法

Fan-Tien Cheng (Inventor)

研究成果: Patent

摘要

一種應用通用型嵌入式裝置(Generic Embedded Device;GED)之生產製程的品質預測系統與方法。此品質預測系統至少包括:通用型嵌入式裝置、量測資料擷取計劃(Data Collection Plan)和遠端主機(Remote Host),其中通用型嵌入式裝置係安裝於生產機台中,且連結有可插入式(Pluggable)品質預測模組,而量測資料擷取計劃係連接至量測機台,以便自量測機台蒐集產品的實際品質檢測值。可插入式品質預測模組係利用生產機台正在加工過程中的製程參數,加上最近數次的產品實際檢測值,以預測出未來生產的產品品質。
原文English
專利號I269990
出版狀態Published - 1800

引用此文

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TY - PAT

T1 - QUALITY PROGNOSTICS SYSTEM AND METHOD FOR MANUFACTURING PROCESSES WITH GENERIC EMBEDDED DEVICES

AU - Cheng, Fan-Tien

PY - 1800

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N2 - 一種應用通用型嵌入式裝置(Generic Embedded Device;GED)之生產製程的品質預測系統與方法。此品質預測系統至少包括:通用型嵌入式裝置、量測資料擷取計劃(Data Collection Plan)和遠端主機(Remote Host),其中通用型嵌入式裝置係安裝於生產機台中,且連結有可插入式(Pluggable)品質預測模組,而量測資料擷取計劃係連接至量測機台,以便自量測機台蒐集產品的實際品質檢測值。可插入式品質預測模組係利用生產機台正在加工過程中的製程參數,加上最近數次的產品實際檢測值,以預測出未來生產的產品品質。

AB - 一種應用通用型嵌入式裝置(Generic Embedded Device;GED)之生產製程的品質預測系統與方法。此品質預測系統至少包括:通用型嵌入式裝置、量測資料擷取計劃(Data Collection Plan)和遠端主機(Remote Host),其中通用型嵌入式裝置係安裝於生產機台中,且連結有可插入式(Pluggable)品質預測模組,而量測資料擷取計劃係連接至量測機台,以便自量測機台蒐集產品的實際品質檢測值。可插入式品質預測模組係利用生產機台正在加工過程中的製程參數,加上最近數次的產品實際檢測值,以預測出未來生產的產品品質。

M3 - Patent

M1 - I269990

ER -