QUALITY PROGNOSTICS SYSTEM AND METHOD FOR MANUFACTURING PROCESSES WITH GENERIC EMBEDDED DEVICES

貢獻的翻譯標題: 應用通用型嵌入式裝置之生產製程的品質預測系統與方法

Fan-Tien Cheng (Inventor)

研究成果: Patent

摘要

一種應用通用型嵌入式裝置(Generic Embedded Device;GED)之生產製程的品質預測系統與方法。此品質預測系統至少包括:通用型嵌入式裝置、量測資料擷取計劃(Data Collection Plan)和遠端主機(Remote Host),其中通用型嵌入式裝置係安裝於生產機台中,且連結有可插入式(Pluggable)品質預測模組,而量測資料擷取計劃係連接至量測機台,以便自量測機台蒐集產品的實際品質檢測值。可插入式品質預測模組係利用生產機台正在加工過程中的製程參數,加上最近數次的產品實際檢測值,以預測出未來生產的產品品質。
貢獻的翻譯標題應用通用型嵌入式裝置之生產製程的品質預測系統與方法
原文English
專利號I269990
出版狀態Published - 1800

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