一種生產製程之品質預測系統與方法，係利用生產機台正在加工過程中的製程參數，加上最近數次的產品實際檢測值，以預測出未來生產的產品品質。本發明主要係由推估模式與預測模式兩個裝置(Means)所組成，其推估方法和預測方法可根據實際生產機台的特性來選擇，推估模式裝置更可當作虛擬量測用。此外，本發明更包含自我搜尋裝置與自我調適裝置，以挑選出演算法所須之最佳參數與函數組合；及修正並滿足新的生產機台特性與推估/預測準確度的要求。
| 原文 | English |
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| 專利號 | I267012 |
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| 出版狀態 | Published - 1800 |
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引用此
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APA
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Author
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BIBTEX
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Harvard
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Standard
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RIS
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Vancouver
@misc{34daedf321ce4298bddf2e0fa205c0c8,
title = "QUALITY PROGNOSTICS SYSTEM AND METHOD FOR MANUFACTURING PROCESSES",
abstract = "一種生產製程之品質預測系統與方法，係利用生產機台正在加工過程中的製程參數，加上最近數次的產品實際檢測值，以預測出未來生產的產品品質。本發明主要係由推估模式與預測模式兩個裝置(Means)所組成，其推估方法和預測方法可根據實際生產機台的特性來選擇，推估模式裝置更可當作虛擬量測用。此外，本發明更包含自我搜尋裝置與自我調適裝置，以挑選出演算法所須之最佳參數與函數組合；及修正並滿足新的生產機台特性與推估/預測準確度的要求。",
author = "Fan-Tien Cheng",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I267012",
}
TY - PAT
T1 - QUALITY PROGNOSTICS SYSTEM AND METHOD FOR MANUFACTURING PROCESSES
AU - Cheng, Fan-Tien
PY - 1800
Y1 - 1800
N2 - 一種生產製程之品質預測系統與方法，係利用生產機台正在加工過程中的製程參數，加上最近數次的產品實際檢測值，以預測出未來生產的產品品質。本發明主要係由推估模式與預測模式兩個裝置(Means)所組成，其推估方法和預測方法可根據實際生產機台的特性來選擇，推估模式裝置更可當作虛擬量測用。此外，本發明更包含自我搜尋裝置與自我調適裝置，以挑選出演算法所須之最佳參數與函數組合；及修正並滿足新的生產機台特性與推估/預測準確度的要求。
AB - 一種生產製程之品質預測系統與方法，係利用生產機台正在加工過程中的製程參數，加上最近數次的產品實際檢測值，以預測出未來生產的產品品質。本發明主要係由推估模式與預測模式兩個裝置(Means)所組成，其推估方法和預測方法可根據實際生產機台的特性來選擇，推估模式裝置更可當作虛擬量測用。此外，本發明更包含自我搜尋裝置與自我調適裝置，以挑選出演算法所須之最佳參數與函數組合；及修正並滿足新的生產機台特性與推估/預測準確度的要求。
M3 - Patent
M1 - I267012
ER -