QUALITY PROGNOSTICS SYSTEM AND METHOD FOR MANUFACTURING PROCESSES

貢獻的翻譯標題: 生產製程之品質預測系統與方法

Fan-Tien Cheng (Inventor)

研究成果: Patent

摘要

一種生產製程之品質預測系統與方法,係利用生產機台正在加工過程中的製程參數,加上最近數次的產品實際檢測值,以預測出未來生產的產品品質。本發明主要係由推估模式與預測模式兩個裝置(Means)所組成,其推估方法和預測方法可根據實際生產機台的特性來選擇,推估模式裝置更可當作虛擬量測用。此外,本發明更包含自我搜尋裝置與自我調適裝置,以挑選出演算法所須之最佳參數與函數組合;及修正並滿足新的生產機台特性與推估/預測準確度的要求。
原文English
專利號I267012
出版狀態Published - 1800

引用此文

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TY - PAT

T1 - QUALITY PROGNOSTICS SYSTEM AND METHOD FOR MANUFACTURING PROCESSES

AU - Cheng, Fan-Tien

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種生產製程之品質預測系統與方法,係利用生產機台正在加工過程中的製程參數,加上最近數次的產品實際檢測值,以預測出未來生產的產品品質。本發明主要係由推估模式與預測模式兩個裝置(Means)所組成,其推估方法和預測方法可根據實際生產機台的特性來選擇,推估模式裝置更可當作虛擬量測用。此外,本發明更包含自我搜尋裝置與自我調適裝置,以挑選出演算法所須之最佳參數與函數組合;及修正並滿足新的生產機台特性與推估/預測準確度的要求。

AB - 一種生產製程之品質預測系統與方法,係利用生產機台正在加工過程中的製程參數,加上最近數次的產品實際檢測值,以預測出未來生產的產品品質。本發明主要係由推估模式與預測模式兩個裝置(Means)所組成,其推估方法和預測方法可根據實際生產機台的特性來選擇,推估模式裝置更可當作虛擬量測用。此外,本發明更包含自我搜尋裝置與自我調適裝置,以挑選出演算法所須之最佳參數與函數組合;及修正並滿足新的生產機台特性與推估/預測準確度的要求。

M3 - Patent

M1 - I267012

ER -